射频抗扰度测试系统厂家 [产品特点] 射频辐射抗扰度测试通常在OATS(开阔场)、FAC(全电波暗室)、GTEM(G级横电波室)、TEM(横电波小室)中进行测试。LaplaCell是一套改进后TEM小式,降低对功率放大器的需求、提高测试等级,较高可到60V/m,具有GTEM的高效能特点。同时还可以用于辐射骚扰测量(Radiated Emission)。 ?采用IEC 61000-4-20测试方法,应用于辐射抗扰度和辐射发射测量 ?EUT容积:35×38×45 cm(Lc 300/2);78×82×87 cm(Lc600)。整套系统占地面积小 ?较高辐射抗扰度测试等级:60V/m(Lc 300/2),频率范围:30MHz – 3GHz ?自由空间阻抗接近200Ω(OATS可接近理论值377Ω),优于GTEM的50Ω ?一站式全自动测试系统,包括信号发生器、功率放大器、RF电子切换开关、测试软件 ?小室内置场强探头、照明、摄像头、电源/信号线滤波器、透明观测窗 ?辐射抗扰度和发射测量可校准到3GHz 易磁通科技|||射频抗扰度测试系统厂家